フィゾー型 レーザー干渉計 Sシリーズ|仕様光学計測機器
商品仕様
Sシリーズ | 口径サイズ | SRW 波長変調モデル |
SR スタンダードモデル |
HR ハイスペックモデル |
HRx 超高解像度モデル |
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光線口径 | S50 | 2inch(51mm) | |||
S100 | 4inch(102mm) | ||||
S150 | 6inch(153mm) | ||||
S300 | 12inch(304mm) | ||||
光軸高さ | S50 | 108mm | |||
S100 | 108mm | ||||
S150 | 133mm | ||||
S300 | 別途応談 | ||||
フォーカス範囲 | S50 | ±2,000(mm) | |||
S100 | ±2,000(mm) | ||||
S150 | ±4,500(mm) | ||||
S300 | ±2,000(mm) | ||||
本体寸法 (W×D×H) |
S50 | 630×290×180(mm) | |||
S100 | 700×320×250(mm) | ||||
S150 | 902×408×239(mm) | ||||
S300 | 760×400×500(mm) | ||||
重量 | S50 | 25kg | |||
S100 | 33kg | ||||
S150 | 50kg | ||||
S300 | 100kg | ||||
計測原理 | 波長変調位相シフト法 (Wavelength Shifting PSI) |
位相シフト法(PSI) | |||
キャリアフリンジ法 | |||||
アライメントシステム | 2スポットレティクル(角度範囲2度) | ||||
レーザー光源 | 波長変調633nmレーザー | 波長安定化 SLM 633nm He-Neレーザー | |||
レーザー波長安定性 | <0.0001nm | ||||
可干渉距離 | >100m | ||||
光線偏光 | 円偏光(その他オプション対応) | ||||
光源オプション | SCI光源、近赤外波長光源 | SCI光源、波長変調レーザー光源、近赤外波長光源 | |||
カメラ解像度 | 1024×1024画素 | 2044×2044画素 | 3258×3258画素 | ||
最小シャッター速度 | 9µ秒 | ||||
デジタイゼイション | 12ビット(S300は標準8ビット、オプションで12bit) | ||||
コンピューター&ソフトウエア | 高性能PC、Windows® 64-bit OS(ノートPCオプション可能) REVEALソフトウエア |
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本体固定方向 | 水平、または垂直 | ||||
対応アクセサリー | 業界標準バヨネットマウント |
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※
Windows は米国 Microsoft Corporation の米国およびその他の国における登録商標です。
性能仕様
Sシリーズ | 口径サイズ | SRW | SR | HR | HRx |
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イメージ 分解能 |
S50 | 100µm | 50µm | 35µm | |
S100 | 200µm | 100µm | 70µm | ||
S150 | 300µm | 150µm | 105µm | ||
S300 | - | 300µm | - | ||
画像歪み | <0.06%(全フォーカス範囲) | ||||
フリンジ解像度 | >300本/口径 | >500本/口径 | >600本/口径 | ||
リトレース誤差 | <λ/15@256フリンジ <λ/20オプション対応 |
<λ/15@512フリンジ(S300は@200フリンジ) <λ/20オプション対応 |
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RMS単純再現性 | <0.6nm RMS 1σ、平均化なし | ||||
RMS波面再現性 | <0.6nm RMS 1σ、平均化なし | ||||
試料反射率 | 0.1%~40%(直接測定) 41%以上(減衰フィルターまたはコーティング対応) S300は0.5%~100% |
環境仕様
Sシリーズ | 口径サイズ | SRW | SR | HR |
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温度 | 15℃~30℃ | |||
温度変化 | <1.0℃/15分 | |||
湿度 | 5%~95%、結露がないこと | |||
振動対策 | 防振台の使用を推奨 |
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商品の仕様は予告なく変更する場合があります。
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