RA-532H｜概要表面反射アナライザー

1回の測定で、光沢度、ヘーズ、写像性、拡散度の4つの指標＋BRDFを一度に出力します。

スペキュラー成分におけるBRDFの拡がり具合を数値化
従来の像鮮明性指標DOI、写像性の欠点を改善

1回の測定で、3角度の計測結果を一度に出力します。

1次元のBRDFだけでなく、2次元のBRDFを表示するため、シボや引き目などの状態を判断しやすくなります。

実際の測定箇所が、装置表示部のモニターに表示されるため、測定したい箇所を正確に測定することが可能です。
測定エリアが表示されるため、各角度毎の測定領域も見た目で判断することができます。また、各角度の測定エリアが表示されるため、測定範囲も確認することが可能です。

光学構造・特長・活用法をまとめた表面反射アナライザー RA-532H 商品紹介動画