smartWLI compact｜概要光学計測機器 光学式3次元表面プロファイラー
商品概要
5M画素カメラ・GPU（NVIDIA®等）の採用により、高精細・高スループットな測定を実現した光学計測機器 光学式3次元表面プロファイラーです。169Hzのハイスピードカメラを搭載可能で、耐振動性が高く、生産性向上に寄与します。スタンドアローン機としてはもちろん、コンパクトで軽量なためロボット等に搭載してのオンマシン計測・インライン計測システムとしてのフレキシブルな導入の実績があるモデルです。
基本情報
- 商品名
- smartWLI compact
オンマシン・インライン計測向け小型軽量モデル
オンマシン計測の事例
粗面における角度追従性
特長
- 210×58×105mm、約2kgと小型軽量でインライン計測が可能
- GPU（NVIDIA®等）の採用による高スループットを実現
- 高精細カメラ（5MP＠77Hz）orハイスピードカメラ（2.3MP＠169Hz）の選択可能
- 解析ソフトとして業界標準のMountainsMap®（Digital Surf社）を採用
- 高さ方向（Z）に400µmまでスキャニングが可能な高品質なスキャナーを搭載
- 0.1nm（5MP）、0.15nm（2.3MP）の実効分解能
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キヤノンマーケティングジャパン株式会社 産業機器事業部 第二営業本部 営業部 営業第一課
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