発売情報

波長変調レーザー干渉計“S100|SRW”

おもな特長

レーザー干渉計は、光学部品や鏡面加工部品などの品質検査で使われる計測機器です。光学レンズや高精度ミラーのほか、継続して需要が伸びている半導体・液晶露光装置の製造工程や宇宙・衛星分野で用いられる光学部品の検査工程などでも使用されています。また、防犯カメラや車載カメラの高機能化・市場活性化により、検査の効率化や精度向上への寄与が求められています。

高品質な計測を実現するÄpre社のレーザー干渉計

Äpre社は、光干渉に関する優れた技術力と豊富な経験を持つエンジニアが集まり2013年に起ち上げた企業です。検査プロセスの進化・向上に貢献する装置を高いコストパフォーマンスで提供しています。波長変調モデルの“S100|SRW”をはじめとするレーザー干渉計は、光学性能の向上に重点を置いた最適な設計と部品品質の追求により、測定結果に含まれる誤差成分を大幅に軽減しています。また、3タイプの出射光径と3種の光源オプションをラインアップすることで、従来困難であった計測課題を、干渉計本体を増設せずに光源交換のみで克服し、検査タクトを大幅に削減することが可能となります。

キヤノンMJの目的

キヤノンMJは、長年の光学計測機器の輸入販売、技術・フィールドサポートによりお客さまのニーズをとらえ、製品・サービスを提供してきました。新たに販売するÄpre社の製品は、光源のフレキシビリティ、高品位な部品の測定、振動環境での測定など、干渉計に対するさまざまなニーズに応える製品です。今後も市場ニーズに応える製品ラインアップを拡充し、計測ソリューション事業を拡大していきます。

Äpre社の概要

社名

Äpre Instruments, Inc.

設立

2013年

本社
所在地

2440 West Ruthrouth Rd.,Suite 100-120 Tucson, AZ 85705 USA

事業内容

干渉計、測定装置の開発・製造・販売