セミコンジャパン2011
キヤノンマーケティングジャパンが取り扱う最新のアッシング装置、RTP装置、ウェハー欠陥検査装置・バンプ計測装置、質量測定装置、膜厚計測装置、犠牲層エッチング・コーティング装置、ナノインプリント装置、光学計測機器など国内・海外からの多くの優れた半導体製造装置や計測装置、ケミカルフィルターなどをご紹介する予定です。
是非、キヤノンマーケティングジャパンブースにお立ち寄りください。
開催概要
- 会期
- 2011年12月7日(水)~12月9日(金)
- 時間
- 10時~17時
- 会場
- 幕張メッセ(1~8ホール)
キヤノンマーケティングジャパンブース:3ホール 3C-704 - 入場料
- 無料
- ※ 来場者の展示会入場は全て登録制です。セミコンジャパン2011公式webサイトより登録ページにアクセスし、画面表示にしたがってご登録下さい。
- 主催
- SEMIジャパン
主な展示製品
- アッシング装置
- RTP装置
- ウェハー欠陥検査装置・バンプ計測装置
- 質量測定装置
- 膜厚計測装置
- 犠牲層エッチング・コーティング装置
- ナノインプリント装置
- 光学計測機器
- ケミカルフィルターなど