セミコンジャパン2011

セミコンジャパン2011 
会期:2011年12月7日(水)~2011年12月9日(金)
会場:幕張メッセ1~8ホール (キヤノンブース:3ホール3C-704)

オフィシャルサイト

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キヤノンマーケティングジャパンが取り扱う最新のアッシング装置、RTP装置、ウェハー欠陥検査装置・バンプ計測装置、質量測定装置、膜厚計測装置、犠牲層エッチング・コーティング装置、ナノインプリント装置、光学計測機器など国内・海外からの多くの優れた半導体製造装置や計測装置、ケミカルフィルターなどをご紹介する予定です。

是非、キヤノンマーケティングジャパンブースにお立ち寄りください。

開催概要

会期
2011年12月7日(水)~12月9日(金)
時間
10時~17時
会場
幕張メッセ(1~8ホール)
キヤノンマーケティングジャパンブース:3ホール 3C-704
入場料
無料
  • 来場者の展示会入場は全て登録制です。セミコンジャパン2011公式webサイトより登録ページにアクセスし、画面表示にしたがってご登録下さい。
主催
SEMIジャパン

主な展示製品

  • アッシング装置
  • RTP装置
  • ウェハー欠陥検査装置・バンプ計測装置
  • 質量測定装置
  • 膜厚計測装置
  • 犠牲層エッチング・コーティング装置
  • ナノインプリント装置
  • 光学計測機器
  • ケミカルフィルターなど

関連サイト

  • 半導体/産業機器キヤノングループが提供する半導体/産業機器製品情報サイト

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